GMIF2024与态坦测验一同见证存储芯片测验范畴的全新打破！

  9月27日，第三届GMIF2024立异峰会将在深圳湾万丽酒店举行，本届峰会以“AI驱动，存储复苏”为主题，将环绕存储器商场复苏与AI新式使用商场带动下的工业格式与趋势，共享前沿技能与最新产品，讨论工业链上下游怎么协同立异，构建协作共赢的工业生态。

  先进的测验算法与高功能测验设备是存储工业高质量开展不可或缺的支撑。它们不只决议了存储芯片能否满意当今数据密集型使用的需求，还直接影响到产品的良率与上市速度。优异的测验算法可以精确辨认芯片中的潜在缺点，而高效的测验设备则能大幅度前进出产功率，保证每一片存储芯片都能在功能和可靠性上到达最高规范。因而，半导体测验技能的前进关于整个存储工业的开展起着至关重要的效果。

  态坦测验的首席技能官（CTO）徐永刚博士，将在即GMIF2024上带来题为《新趋势下的存储芯片老化测验》的主题讲演，全面解析当时半导体存储与测验商场的现状，并共享态坦测验在多个先进芯片测验设备范畴的技能与战略布局。态坦测验一直致力于霸占先进ATE（自动测验设备）架构BI（Burn-In，老化测验）测验设备中的要害技能难题，如高速通讯体系、杂乱算法图形生成等。经过不懈努力，公司成功研制出了一系列高功能、高集成度且具有超高的性价比的存储BI测验设备解决计划，完成国产半导体设备技能的打破，满意日益杂乱的存储芯片所需求的高速测验计划。

  成都态坦测验科技有限公司成立于2023年，公司聚集半号体(存储/SoC)测验中心范畴，中心团队具有10年以上的一线半号体巨子测验设备研制经历。公司致力于国产高端半导体测验设备的研制打破，产品在国内一线IDM厂商及规划企业完成量产交给。公司布局了存储芯片ATE测验机、BI老化测验机、SLT测验机、SSD模组测验配备和DDR模组测验配备等系列新产品，包括量产及研制工程机，助力DRAM及NAND Fash范畴测验配备的国产化打破，一起公司办在半导体测验要害材料及治具方面深入研究，可以为客户供给全方位的测验设备交给和保护服务。公司针对存储芯片到模组的出产测验，推出了国内首台高并测、高热负荷、高温度均匀性量产的Fash/DRAM BI测验机，功能到达世界一流水平;公司投产的业界首台SSD全自动化出产测验配备，取得FMS2023最具立异技能设备大奖;公司研制投产了国内首台LPDDR5 SLT测验机及国内首台闪存测验机，完成国产打破，并大大下降客户测验本钱。